仪器型号：JSM-6510LV 生产厂家：日本电子公司
主要技术指标：
1.加速电压：1-30KV；
2.分辨率：1μm；
3.放大倍率：30x~10000x；
4.配备OXFORD能谱仪：INCA -X-Act，检测元素范围4Be~92U。
应用范围：
1.金属、陶瓷、高分子、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察和分析。
2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测。
3.粉末、微粒样品形态和粒度的测定。
4.复合材料界面特性的研究。
送样要求：
1.样品需干燥、无磁性、不含油
2.粉末样品需要研磨均匀，粒度大小均一
3.不能做溶液样品